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無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的工作原理

發(fā)布時(shí)間:2022-08-20
每個(gè)行業(yè)都有一些有效的輔助工具,在電子工業(yè)中,無(wú)損檢測(cè)設(shè)備就是其中之一。由于BGA單片機(jī)芯片周圍沒(méi)有按照傳統(tǒng)設(shè)計(jì)分布,而是分布在單片機(jī)芯片底部,無(wú)疑無(wú)法根據(jù)傳統(tǒng)的人工視覺(jué)檢測(cè)判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量,因此必須根據(jù)ICT甚至功能進(jìn)行測(cè)試。因此,無(wú)損檢測(cè)設(shè)備在SMT回流焊后檢測(cè)中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。它不僅可以定性分析焊點(diǎn),還可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)和糾正故障。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的工作原理。
 
1.首先,無(wú)損裝置主要利用X射線的穿透力。X射線波長(zhǎng)短,能量大。當(dāng)物質(zhì)照射物體時(shí),只會(huì)吸收一小部分X射線,而大多數(shù)X射線的能量會(huì)穿過(guò)物質(zhì)原子的間隙,顯示出很強(qiáng)的穿透力。
 
2.無(wú)損裝置可以檢測(cè)x射線穿透力與物質(zhì)密度的關(guān)系,通過(guò)差異吸收可以區(qū)分不同密度的物質(zhì)。這樣,如果檢測(cè)到的物體有不同的厚度、形狀變化、不同的X射線吸收和不同的圖像,就會(huì)產(chǎn)生不同的黑白圖像。
3.可用于IGBT半導(dǎo)體檢測(cè)、BGA芯片檢測(cè)、LED燈條檢測(cè)、PCB裸板檢測(cè)、鋰電池檢測(cè)、鋁鑄件無(wú)損檢測(cè)。
 
4.簡(jiǎn)單地說(shuō),使用無(wú)干擾的微焦點(diǎn)無(wú)損設(shè)備輸出高質(zhì)量的熒光透視圖像,然后將其轉(zhuǎn)換為平板探測(cè)器接收的信號(hào)。操作軟件的所有功能只用鼠標(biāo)完成,使用方便。標(biāo)準(zhǔn)高性能x光管可檢測(cè)到5微米以下的缺陷,部分無(wú)損設(shè)備可檢測(cè)到2.5微米以下的缺陷,系統(tǒng)可放大1000倍,物體可傾斜。無(wú)損設(shè)備可以手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè),檢測(cè)數(shù)據(jù)可以自動(dòng)生成。
 
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